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復(fù)合型非線性結(jié)點(diǎn)電子引爆裝置探測(cè)裝備ZAXT-I

本設(shè)備運(yùn)用了非線性結(jié)點(diǎn)探測(cè)領(lǐng)域的最新技術(shù)，可以探測(cè)到隱藏的電子引爆裝置，并且與該裝置的開啟與關(guān)閉無關(guān)。

產(chǎn)品類別：復(fù)合型非線性節(jié)點(diǎn)探測(cè)器
產(chǎn)品型號(hào)：ZAXT-I

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| 產(chǎn)品介紹

本設(shè)備運(yùn)用了非線性結(jié)點(diǎn)探測(cè)領(lǐng)域的最新技術(shù)，可以探測(cè)到隱藏的電子引爆裝置，并且與該裝置的開啟與關(guān)閉無關(guān)。本設(shè)備通過對(duì)接收到的二次、三次諧波進(jìn)行分析，即可分辨出含有半導(dǎo)體器件的電子裝置，還可以分辨出金屬及其氧化物連接的“假”結(jié)點(diǎn)。在探測(cè)距離和穿透能力上達(dá)到世界領(lǐng)先水平，在發(fā)射方面擁有最新設(shè)計(jì)的功率手動(dòng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)，一方面保證檢出率，一方面防止因發(fā)射功率不當(dāng)而導(dǎo)致的對(duì)電子裝置的誤開關(guān)、誤動(dòng)作以及因發(fā)射功率過大而導(dǎo)致的對(duì)電子元器件的損壞。